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GeminiSEM場發(fā)射掃描電鏡

簡要描述:場發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡。它利用電子束與樣品表面相互作用,通過檢測和分析電子束與樣品之間的相互作用信號,可以提供關(guān)于樣品形貌、表面結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的詳細(xì)信息。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2023-10-07
  • 訪  問  量:4185

詳細(xì)介紹

應(yīng)用領(lǐng)域化工
  一、產(chǎn)品描述:
 
  長久以來,蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現(xiàn)1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內(nèi)容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)的三大*設(shè)計,探索蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應(yīng)用潛能。
 
  場發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡。它利用電子束與樣品表面相互作用,通過檢測和分析電子束與樣品之間的相互作用信號,可以提供關(guān)于樣品形貌、表面結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的詳細(xì)信息。
 
  具有以下特點和優(yōu)勢:
 
  1. 高分辨率:具有很高的空間分辨率,可以觀察到納米級的細(xì)節(jié)和結(jié)構(gòu)。
 
  2. 大深度焦距:具有較大的深度焦距,使得整個樣品表面都能夠獲得清晰的圖像。
 
  3. 大視場:具有相對較大的視場,可以同時觀察到較大范圍的樣品表面。
 
  4. 高靈敏度探測器:采用高靈敏度的探測器,可以檢測和收集來自樣品的不同類型信號,如二次電子、反射電子、透射電子等,從而實現(xiàn)對樣品性質(zhì)的多方面表征。
 
  5. 化學(xué)分析能力:可以結(jié)合能譜儀(EDS或WDS)進(jìn)行元素分析,從而確定樣品的化學(xué)成分。
 
  6. 表面形貌表征:可以觀察和研究不同材料的表面形貌、紋理和拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。
 
  7. 應(yīng)用廣泛:在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,對于研究和開發(fā)新材料、表征材料性能和質(zhì)量控制具有重要作用。
 
  總之,場發(fā)射掃描電鏡是一種強(qiáng)大的工具,可以提供高分辨率的圖像和詳細(xì)的樣品信息,對于各種科學(xué)研究和工程應(yīng)用都具有重要價值。
 
場發(fā)射掃描電子顯微鏡
       二、特征
 
  1、更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的GeminiSEM 360可以實現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。
 
  2、更強(qiáng)大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的GeminiSEM 460可應(yīng)對更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無縫切換。
 
  3、更gao端的表征體驗 - GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎,讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列最chu色的分辨率特性。
 
  蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
 
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
兩個平行設(shè)計的鏡筒內(nèi)探測器為樣品表征提供更全面的信息
場發(fā)射掃描電子顯微鏡
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
 
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
幫助您快速分析的同時兼顧大束流和高分辨。
場發(fā)射掃描電子顯微鏡
讓您的場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460成為原位實驗室。
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560
 
蔡司GeminiSEM 560
在低電壓下表征不導(dǎo)電礦物顆粒的表面:GeminiSEM 560,800 V, Inlens SE。
最佳成像條件:釹鐵硼磁鐵的磁疇襯度
“應(yīng)用量子技術(shù)中心”對什么樣的研究感興趣?
 
Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。
Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。
聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過注塑成型生產(chǎn)。
聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡,通過注塑成型生產(chǎn)。
 
  斯圖加特大學(xué)應(yīng)用量子技術(shù)中心ZAQuant的Mario Hentschel博士描述了該小組正在研究的課題和應(yīng)用、在實驗室中面臨的挑戰(zhàn)以及如何利用蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。
 
  “我們正在研究光學(xué)感應(yīng)和檢測應(yīng)用中最復(fù)雜的微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)。因此,我們必須在納米尺度檢查和表征我們的器件。深入了解樣品信息不僅是過程控制和優(yōu)化的核心,在解釋感應(yīng)和檢測方案中涉及的局部現(xiàn)象時也必bu可少。除了單純的表面形貌信息外,我們也對納米材料組成分以及有意和無意的局部雜質(zhì)感興趣。
 
  "所有這些應(yīng)用都要求電子顯微鏡具有高分辨率與樣品適用性。蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以很好地兼顧這兩點。它提供豐富的探測器選擇,從而能夠?qū)Ρ砻娓叩推鸱⒉牧弦r度、表面邊緣以及樣品的所有不同特征進(jìn)行成像和突出顯示。在日常工作中,我們經(jīng)常面對差異極大的樣品如形狀大小不同材料組成不同,給顯微表征帶來了很大的挑戰(zhàn)。我們能夠?qū)σ髽O為嚴(yán)苛且高難度的樣品(例如高度絕緣的聚合物和塑料)拍出高質(zhì)量的圖像,使荷電效應(yīng)的影響極小化。該系統(tǒng)可以在低倍和*的放大倍率下成像。在不久的將來,場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560將被安裝在斯圖加特應(yīng)用量子技術(shù)中心(ZAQuant)新建研究大樓的潔凈室中。ZAQuant的主要研究人員來自物理、機(jī)械、電氣工程、化學(xué)等不同領(lǐng)域,其應(yīng)用千差萬別,因此不僅要保持優(yōu)異的成像性能,還必須確保樣品適用性。因此,場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560無疑將成為實驗表征的利器。”
 
  DE.Mario Hentschel博士,德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。
 
 

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