斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)

德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣，這種的分析技術(shù)已成為實(shí)驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)

SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件，可獲得好的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發(fā)，12位樣品自動交換器，預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊，使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。

SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包，包括：在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析：土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。

XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令。